“IEEE里程碑”奖
电气电子工程师学会(IEEE)的英文全称是the Institute of Electrical and Electronics Engineers，其前身是成立于1884年的美国电气工程师协会(AIEE)和成立于1912年的无线电工程师协会(IRE)，是一个国际性的电子技术与信息科学工程师的协会。而“IEEE里程碑" 奖设立于1983年,主要用于表彰那些在电气、电子、信息及通信领域的革新中,自开发后历经25年以上仍被公认为对社会及产业发展有巨大贡献的历史伟业。
为表彰日立场发射扫描电子显微镜的实用化功绩，电气和电子工程师协会(IEEE)曾授予日立场发射扫描电子显微镜奖“IEEE里程碑(IEEE Milestones )”。
1969年，日立开始着手开发FE*1 电子源技术。
仅仅用了3年的时间，便将FE技术投入到实际应用中，研制成全球商用FE-SEM*2 。40余年以来，日立的FE技术被应用到高分辨SEM和TEM*3 产品中，它的FE电子源极其稳定，在生物、材料、半导体等领域得到了广泛应用，对全球的科学、医学等产业发展产生了深远的影响。
日立FE-SEM可以实现肉眼看不到的微观观察，可靠性和操作性都十分优异，尤其深得国内外广大用户的喜爱。2012年，日立开发的FE-SEM荣获了“IEEE里程碑”奖。
*1.FE: Field Emission(场发射),指对针尖状阴极(场发射要素)施以数千伏电压，表面会释放高密度电子的一种现象。
*2.FE-SEM: Field Emission-Scanning Electron Microscope(场发射扫描电子显微镜)
*3.TEM: Transmission Electron Microscope(透射电子显微镜)
那些年，电子显微镜的功绩
1972年
将FE技术应用到FE-SEM中，为高分辨SEM技术作出贡献，日立场发射扫描电镜采用FE电子源图像分辨率大幅提升。
1984年
将FE技术应用到测长SEM中，为半导体器件的精密化发展作出贡献。在激烈的开发竞争中拓展半导体产业从简单的“观察”到精密的“测量”，FE-SEM实现了质的飞跃，诞生了精细尺寸的测量技术。引领世界发展!
1985年
成功观察并拍摄到AIDS病毒，为医疗和生物领域的发展作出贡献，观察到AIDS病毒的真实形貌!
1986年
有力的验证了阿哈拉诺夫玻姆效应，为科学技术的验证及发展作出贡献，日立将FE-SEM应用到电子全息技术中，正面论证了阿哈拉诺夫玻姆效应!
*阿哈拉诺夫玻姆效应：
1959年，布里斯托尔大学的亚基尔·阿哈罗诺夫和戴维·博姆发现了“电子在数值为零的电场和磁场作用的情况下，仍会受到电磁势的影响”的现象。在磁场完全封闭的面包圈型超导电磁石的电镜图中，电子的干涉条纹(图中的横纹)出现了漂移。这就是受到电磁势影响的有力证据，完全验证了阿哈拉诺夫玻姆效应的说法。
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